中文字幕乱偷无码AV先锋_午夜精品久久久久久毛片_佘太君正撅着她肥白的大屁股_亚洲色婷婷一区二区三区

歡迎來到岱美儀器技術服務(上海)有限公司網站!
岱美儀器技術服務(上海)有限公司
咨詢熱線

4008529632

當前位置:首頁  >  產品中心  >    >  CMP 晶圓減薄拋光  >  7AF-HMG SiC研磨機

7AF-HMG SiC研磨機

簡要描述:7AF-HMG研磨機具有實時過程監控及雙探頭監測功能,研磨SiC會產生熱量,從而導致研磨機熱膨脹,使用單個探針,研磨的前幾塊晶圓的厚度讀數將不準確,通常會導致研磨不足,使用雙探針可防止研磨不足,一個探針參考晶圓,另一個探針則參考工作卡盤,這消除了優于熱膨脹引起的誤差

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 產品資料:
  • 更新時間:2024-03-19
  • 訪  問  量: 741

產品分類

Product Category

相關文章

Related Articles

詳細介紹

7AF-HMG研磨機特點:

雙探頭檢測:

研磨SiC會產生熱量,從而導致研磨機熱膨脹,使用單個探針,研磨的前幾塊晶圓的厚度讀數將不準確,通常會導致研磨不足,使用雙探針可防止研磨不足,一個探針參考晶圓,另一個探針則參考工作卡盤,這消除了優于熱膨脹引起的誤差


實時過程監控:


應用:

基質研磨

·在晶圓制造過程的早期發生,

·用線鋸或K-cut切割

·漿料去除通常在10微米

·后續晶圓制造操作為表面

·用6EZ拋光


背面研磨

·在晶圓的一側制造器件后發生

·起始面通常具有較低的TTV

·漿料去除通常在100微米

其他應用程序

·線鋸基材的背面減薄和整體減薄









產品咨詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7